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Combined impact of entropy and carrier delocalization on charge transfer exciton dissociation at the donor-acceptor interface

机译:熵和载流子离域对电荷转移的综合影响   供体 - 受体界面处的激子解离

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摘要

Several models of the charge transfer exciton (CTE) have been proposed toexplain its dissociation at the donor-acceptor (DA) interface. However, theunderlying physics is still under debate. Here, we derive temperature($T$)-dependent tight-binding model for an electron-hole pair at the DAinterface. The main finding is the existence of the localization-delocalizationtransition at a critical $T$, which can explain the CTE dissociation. Thepresent study highlights the combined effect of entropy (finite-$T$) andcarrier delocalization in the CTE dissociation.
机译:已经提出了电荷转移激子(CTE)的几种模型来解释其在供体-受体(DA)界面的解离。但是,基础物理学仍在争论中。在这里,我们导出了DA界面上电子-空穴对的依赖温度($ T $)的紧密结合模型。主要发现是在临界$ T $处存在本地化-去本地化转变,这可以解释CTE的解离。本研究强调了CTE离解中熵(有限T $$)和载流子离域的综合作用。

著录项

  • 作者

    Ono, Shota; Ohno, Kaoru;

  • 作者单位
  • 年度 2016
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类

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